Characterization of polycrystalline diamond films grown by Microwave Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (MWPECVD) for UV radiation detection / SPINELLI P. - 617(2010), pp. 405-406. ((Intervento presentato al convegno 11th Pisa meeting on advanced detectors tenutosi a Elba nel 11 -21 May 2010.
Scheda prodotto non validato
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo
Titolo: | Characterization of polycrystalline diamond films grown by Microwave Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition (MWPECVD) for UV radiation detection |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2010 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11586/54691 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.