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We present a combined measurement of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa matrix element vertical bar V(cb vertical bar) and of the parameters rho(2), R(1)(1), and R(2)(1), which fully characterize the form factors for the B(0)-> D*(-)center dot(+)nu(center dot) decay in the framework of heavy-quark effective field theory. The results, based on a selected sample of about 52 800 B(0)-> D*(-)center dot(+)nu(center dot) decays, recorded by the BABAR detector, are rho(2)=1.157 +/- 0.094 +/- 0.027, R(1)(1)=1.327 +/- 0.131 +/- 0.043, R(2)(1)=0.859 +/- 0.077 +/- 0.021, and F(1)vertical bar V(cb vertical bar)=(34.7 +/- 0.4 +/- 1.0)x10(-3). The first error is the statistical and the second is the systematic uncertainty. Combining these measurements with the previous BABAR measurement of the form factors, which employs a different fit technique on a partial sample of the data, we improve the statistical precision of the result, rho(2)=1.191 +/- 0.048 +/- 0.028, R(1)(1)=1.429 +/- 0.061 +/- 0.044, R(2)(1)=0.827 +/- 0.038 +/- 0.022, and F(1)vertical bar V(cb vertical bar)=(34.4 +/- 0.3 +/- 1.1)x10(-3). Using lattice calculations for the axial form factor F(1), we extract vertical bar V(cb)vertical bar=(37.4 +/- 0.3 +/- 1.2 +/-(1.2)(1.4))x10(-3), where the third error is due to the uncertainty in F(1). We also present a measurement of the exclusive branching fraction, B=(4.69 +/- 0.04 +/- 0.34)%.
Determination of the form factors for the decay B(0)-> D*(-)l(+)nu(l) and of the CKM matrix element vertical bar Vcb vertical bar
Aubert B.;Bona M.;Boutigny D.;Karyotakis Y.;Lees J. P.;Poireau V.;Prudent X.;Tisserand V.;Zghiche A.;Tico J. Garra;Grauges E.;Lopez L.;PALANO, Antimo;Eigen G.;Ofte I.;Stugu B.;Sun L.;Abrams G. S.;Battaglia M.;Brown D. N.;Button Shafer J.;Cahn R. N.;Groysman Y.;Jacobsen R. G.;Kadyk J. A.;Kerth L. T.;Kolomensky Y.u. G.;Kukartsev G.;Pegna D. Lopes;Lynch G.;Mir L. M.;Orimoto T. J.;Pripstein M.;Roe N. A.;Ronan M. T.;Tackmann K.;Wenzel W. A.;Sanchez P. Del Amo;Hawkes C. M.;Watson A. T.;Held T.;Koch H.;Lewandowski B.;Pelizaeus M.;Schroeder T.;Steinke M.;Cottingham W. N.;Walker D.;Asgeirsson D. J.;Cuhadar Donszelmann T.;Fulsom B. G.;Hearty C.;Knecht N. S.;Mattison T. S.;McKenna J. A.;Khan A.;Saleem M.;Teodorescu L.;Blinov V. E.;Bukin A. D.;Druzhinin V. P.;Golubev V. B.;Onuchin A. P.;Serednyakov S. I.;Skovpen Y.u. I.;Solodov E. P.;Todyshev K. Yu;Bondioli M.;Curry S.;Eschrich I.;Kirkby D.;Lankford A. J.;Lund P.;Mandelkern M.;Martin E. C.;Stoker D. P.;Abachi S.;Buchanan C.;Foulkes S. D.;Gary J. W.;Liu F.;Long O.;Shen B. C.;Zhang L.;Paar H. P.;Rahatlou S.;Sharma V.;Berryhill J. W.;Campagnari C.;Cunha A.;Dahmes B.;Hong T. M.;Kovalskyi D.;Richman J. D.;Beck T. W.;Eisner A. M.;Flacco C. J.;Heusch C. A.;Kroseberg J.;Lockman W. S.;Schalk T.;Schumm B. A.;Seiden A.;Williams D. C.;Wilson M. G.;Winstrom L. O.;Chen E.;Cheng C. H.;Dvoretskii A.;Fang F.;Hitlin D. G.;Narsky I.;Piatenko T.;Porter F. C.;Mancinelli G.;Meadows B. T.;Mishra K.;Sokoloff M. D.;Blanc F.;Bloom P. C.;Chen S.;Ford W. T.;Hirschauer J. F.;Kreisel A.;Nagel M.;Nauenberg U.;Olivas A.;Smith J. G.;Ulmer K. A.;Wagner S. R.;Zhang J.;Gabareen A. M.;Soffer A.;Toki W. H.;Wilson R. J.;Winklmeier F.;Zeng Q.;Altenburg D. D.;Feltresi E.;Hauke A.;Jasper H.;Merkel J.;Petzold A.;Spaan B.;Wacker K.;Brandt T.;Klose V.;Lacker H. M.;Mader W. F.;Nogowski R.;Schubert J.;Schubert K. R.;Schwierz R.;Sundermann J. E.;Volk A.;Bernard D.;Bonneaud G. R.;Latour E.;Lombardo V.;Thiebaux C.h.;Verderi M.;Clark P. J.;Gradl W.;Muheim F.;Playfer S.;Robertson A. I.;Xie Y.;Andreotti M.;Bettoni D.;Bozzi C.;Calabrese R.;Cecchi A.;Cibinetto G.;Franchini P.;Luppi E.;Negrini M.;Petrella A.;Piemontese L.;Prencipe E.;Santoro V.;Anulli F.;Baldini Ferroli R.;Calcaterra A.;De Sangro R.;Finocchiaro G.;Pacetti S.;Patteri P.;Peruzzi I. M.;Piccolo M.;Rama M.;Zallo A.;Buzzo A.;Contri R.;Lo Vetere M.;Macri M. M.;Monge M. R.;Passaggio S.;Patrignani C.;Robutti E.;Santroni A.;Tosi S.;Chaisanguanthum K. S.;Morii M.;Wu J.;Dubitzky R. S.;Marks J.;Schenk S.;Uwer U.;Bard D. J.;Dauncey P. D.;Flack R. L.;Nash J. A.;Nikolich M. B.;Vazquez W. Panduro;Behera P. K.;Chai X.;Charles M. J.;Mallik U.;Meyer N. T.;Ziegler V.;Cochran J.;Crawley H. B.;Dong L.;Eyges V.;Meyer W. T.;Prell S.;Rosenberg E. I.;Rubin A. E.;Gritsan A. V.;Guo Z. J.;Lae C. K.;Denig A. G.;Fritsch M.;Schott G.;Arnaud N.;Bequilleux J.;Davier M.;Grosdidier G.;Hoecker A.;Lepeltier V.;Le Diberder F.;Lutz A. M.;Pruvot S.;Rodier S.;Roudeau P.;Schune M. H.;Serrano J.;Sordini V.;Stocchi A.;Wang W. F.;Wormser G.;Lange D. J.;Wright D. M.;Chavez C. A.;Forster I. J.;Fry J. R.;Gabathuler E.;Gamet R.;Hutchcroft D. E.;Payne D. J.;Schofield K. C.;Touramanis C.;Bevan A. J.;Di Lodovico F.;George K. A.;Menges W.;Sacco R.;Cowan G.;Flaecher H. U.;Hopkins D. A.;Jackson P. S.;McMahon T. R.;Salvatore F.;Wren A. C.;Brown D. N.;Davis C. L.;Allison J.;Barlow N. R.;Barlow R. J.;Chia Y. M.;Edgar C. L.;Lafferty G. D.;West T. J.;Yi J. I.;Anderson J.;Chen C.;Jawahery A.;Roberts D. A.;Simi G.;Tuggle J. M.;Blaylock G.;Dallapiccola C.;Hertzbach S. S.;Li X.;Moore T. B.;Salvati E.;Saremi S.;Cowan R.;Fisher P. H.;Sciolla G.;Sekula S. J.;Spitznagel M.;Taylor F.;Yamamoto R. K.;Mclachlin S. E.;Patel P. M.;Robertson S. H.;Lazzaro A.;Palombo F.;Bauer J. M.;Cremaldi L.;Eschenburg V.;Godang R.;Kroeger R.;Sanders D. A.;Summers D. J.;Zhao H. W.;Brunet S.;Cote D.;Simard M.;Taras P.;Viaud F. B.;Nicholson H.;De Nardo G.;Fabozzi F.;Lista L.;Monorchio D.;Sciacca C.;Baak M. A.;Raven G.;Snoek H. L.;Jessop C. P.;LoSecco J. M.;Benelli G.;Corwin L. A.;Gan K. K.;Honscheid K.;Hufnagel D.;Kagan H.;Kass R.;Morris J. P.;Rahimi A. M.;Regensburger J. J.;Ter Antonyan R.;Wong Q. K.;Blount N. L.;Brau J.;Frey R.;Igonkina O.;Kolb J. A.;Lu M.;Rahmat R.;Sinev N. B.;Strom D.;Strube J.;Torrence E.;Gagliardi N.;Gaz A.;Margoni M.;Morandin M.;Pompili A.;Posocco M.;Rotondo M.;Simonetto F.;Stroili R.;Voci C.;Ben Haim E.;Briand H.;Chauveau J.;David P.;Del Buono L.;De la Vaissiere C.h.;Hamon O.;Hartfiel B. L.;Leruste P.h.;Malcles J.;Ocariz J.;Perez A.;Gladney L.;Biasini M.;Covarelli R.;Manoni E.;Angelini C.;Batignani G.;Bettarini S.;Calderini G.;Carpinelli M.;Cenci R.;Cervelli A.;Forti F.;Giorgi M. A.;Lusiani A.;Marchiori G.;Mazur M. A.;Morganti M.;Neri N.;Paoloni E.;Rizzo G.;Walsh J. J.;Haire M.;Biesiada J.;Elmer P.;Lau Y. P.;Lu C.;Olsen J.;Smith A. J. S.;Telnov A. V.;Baracchini E.;Bellini F.;Cavoto G.;D'Orazio A.;Del Re D.;Di Marco E.;Faccini R.;Ferrarotto F.;Ferroni F.;Gaspero M.;Jackson P. D.;Gioi L. Li;Mazzoni M. A.;Morganti S.;Piredda G.;Polci F.;Renga F.;Voena C.;Ebert M.;Schroeder H.;Waldi R.;Adye T.;Castelli G.;Franek B.;Olaiya E. O.;Ricciardi S.;Roethel W.;Wilson F. F.;Aleksan R.;Emery S.;Escalier M.;Gaidot A.;Ganzhur S. F.;De Monchenault G. Hamel;Kozanecki W.;Legendre M.;Vasseur G.;Yeche C.h.;Zito M.;Chen X. R.;Liu H.;Park W.;Purohit M. V.;Wilson J. R.;Allen M. T.;Aston D.;Bartoldus R.;Bechtle P.;Berger N.;Claus R.;Coleman J. P.;Convery M. R.;Dingfelder J. C.;Dorfan J.;Dubois Felsmann G. P.;Dujmic D.;Dunwoodie W.;Field R. C.;Glanzman T.;Gowdy S. J.;Graham M. T.;Grenier P.;Hast C.;Hryn'ova T.;Innes W. R.;Kelsey M. H.;Kim H.;Kim P.;Leith D. W. G. S.;Li S.;Luitz S.;Luth V.;Lynch H. L.;MacFarlane D. B.;Marsiske H.;Messner R.;Muller D. R.;O'Grady C. P.;Perazzo A.;Perl M.;Pulliam T.;Ratcliff B. N.;Roodman A.;Salnikov A. A.;Schindler R. H.;Schwiening J.;Snyder A.;Stelzer J.;Su D.;Sullivan M. K.;Suzuki K.;Swain S. K.;Thompson J. M.;Va'vra J.;Van Bakel N.;Wagner A. P.;Weaver M.;Wisniewski W. J.;Wittgen M.;Wright D. H.;Yarritu A. K.;Yi K.;Young C. C.;Burchat P. R.;Edwards A. J.;Majewski S. A.;Petersen B. A.;Wilden L.;Ahmed S.;Alam M. S.;Bula R.;Ernst J. A.;Jain V.;Pan B.;Saeed M. A.;Wappler F. R.;Zain S. B.;Bugg W.;Krishnamurthy M.;Spanier S. M.;Eckmann R.;Ritchie J. L.;Ruland A. M.;Schilling C. J.;Schwitters R. F.;Izen J. M.;Lou X. C.;Ye S.;Bianchi F.;Gallo F.;Gamba D.;Pelliccioni M.;Bomben M.;Bosisio L.;Cartaro C.;Cossutti F.;Della Ricca G.;Lanceri L.;Vitale L.;Azzolini V.;Lopez March N.;Martinez Vidal F.;Milanes D. A.;Oyanguren A.;Albert J.;Banerjee S.w.;Bhuyan B.;Hamano K.;Kowalewski R.;Nugent I. M.;Roney J. M.;Sobie R. J.;Back J. J.;Harrison P. F.;Latham T. E.;Mohanty G. B.;PAPPAGALLO, MARCO IGNAZIO;Band H. R.;Chen X.;Dasu S.;Flood K. T.;Hollar J. J.;Kutter P. E.;Pan Y.;Pierini M.;Prepost R.;Wu S. L.;Yu Z.;Neal H.
2008-01-01
Abstract
We present a combined measurement of the Cabibbo-Kobayashi-Maskawa matrix element vertical bar V(cb vertical bar) and of the parameters rho(2), R(1)(1), and R(2)(1), which fully characterize the form factors for the B(0)-> D*(-)center dot(+)nu(center dot) decay in the framework of heavy-quark effective field theory. The results, based on a selected sample of about 52 800 B(0)-> D*(-)center dot(+)nu(center dot) decays, recorded by the BABAR detector, are rho(2)=1.157 +/- 0.094 +/- 0.027, R(1)(1)=1.327 +/- 0.131 +/- 0.043, R(2)(1)=0.859 +/- 0.077 +/- 0.021, and F(1)vertical bar V(cb vertical bar)=(34.7 +/- 0.4 +/- 1.0)x10(-3). The first error is the statistical and the second is the systematic uncertainty. Combining these measurements with the previous BABAR measurement of the form factors, which employs a different fit technique on a partial sample of the data, we improve the statistical precision of the result, rho(2)=1.191 +/- 0.048 +/- 0.028, R(1)(1)=1.429 +/- 0.061 +/- 0.044, R(2)(1)=0.827 +/- 0.038 +/- 0.022, and F(1)vertical bar V(cb vertical bar)=(34.4 +/- 0.3 +/- 1.1)x10(-3). Using lattice calculations for the axial form factor F(1), we extract vertical bar V(cb)vertical bar=(37.4 +/- 0.3 +/- 1.2 +/-(1.2)(1.4))x10(-3), where the third error is due to the uncertainty in F(1). We also present a measurement of the exclusive branching fraction, B=(4.69 +/- 0.04 +/- 0.34)%.
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