Measurement of CP asymmetries in B(0)-> K(S)(0)K(S)(0)K(S)(0) decays

Aubert, B.; Bona, M.; Boutigny, D.; Karyotakis, Y.; Lees, J. P.; Poireau, V.; Prudent, X.; Tisserand, V.; Zghiche, A.; Garra, Tico J.; Grauges, E.; Lopez, L.; Palano, Antimo; Eigen, G.; Ofte, I.; Stugu, B.; Sun, L.; Abrams, G. S.; Battaglia, M.; Brown, D. N.; Button Shafer, J.; Cahn, R. N.; Groysman, Y.; Jacobsen, R. G.; Kadyk, J. A.; Kerth, L. T.; Kolomensky, Y. u. G.; Kukartsev, G.; Lopes, Pegna D.; Lynch, G.; Mir, L. M.; Orimoto, T. J.; Pripstein, M.; Roe, N. A.; Ronan, M. T.; Tackmann, K.; Wenzel, W. A.; del Amo, Sanchez P.; Hawkes, C. M.; Watson, A. T.; Held, T.; Koch, H.; Lewandowski, B.; Pelizaeus, M.; Schroeder, T.; Steinke, M.; Boyd, J. T.; Burke, J. P.; Cottingham, W. N.; Walker, D.; Asgeirsson, D. J.; Cuhadar Donszelmann, T.; Fulsom, B. G.; Hearty, C.; Knecht, N. S.; Mattison, T. S.; Mckenna, J. A.; Khan, A.; Saleem, M.; Teodorescu, L.; Blinov, V. E.; Bukin, A. D.; Druzhinin, V. P.; Golubev, V. B.; Onuchin, A. P.; Serednyakov, S. I.; Skovpen, Y. u. I.; Solodov, E. P.; Todyshev K., Yu; Bondioli, M.; Bruinsma, M.; Curry, S.; Eschrich, I.; Kirkby, D.; Lankford, A. J.; Lund, P.; Mandelkern, M.; Martin, E. C.; Stoker, D. P.; Abachi, S.; Buchanan, C.; Foulkes, S. D.; Gary, J. W.; Liu, F.; Long, O.; Shen, B. C.; Zhang, L.; Paar, H. P.; Rahatlou, S.; Sharma, V.; Berryhill, J. W.; Campagnari, C.; Cunha, A.; Dahmes, B.; Hong, T. M.; Kovalskyi, D.; Richman, J. D.; Beck, T. W.; Eisner, A. M.; Flacco, C. J.; Heusch, C. A.; Kroseberg, J.; Lockman, W. S.; Schalk, T.; Schumm, B. A.; Seiden, A.; Williams, D. C.; Wilson, M. G.; Winstrom, L. O.; Chen, E.; Cheng, C. H.; Dvoretskii, A.; Fang, F.; Hitlin, D. G.; Narsky, I.; Piatenko, T.; Porter, F. C.; Mancinelli, G.; Meadows, B. T.; Mishra, K.; Sokoloff, M. D.; Blanc, F.; Bloom, P. C.; Chen, S.; Ford, W. T.; Hirschauer, J. F.; Kreisel, A.; Nagel, M.; Nauenberg, U.; Olivas, A.; Smith, J. G.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Zhang, J.; Chen, A.; Eckhart, E. A.; Soffer, A.; Toki, W. H.; Wilson, R. J.; Winklmeier, F.; Zeng, Q.; Altenburg, D. D.; Feltresi, E.; Hauke, A.; Jasper, H.; Merkel, J.; Petzold, A.; Spaan, B.; Wacker, K.; Brandt, T.; Klose, V.; Lacker, H. M.; Mader, W. F.; Nogowski, R.; Schubert, J.; Schubert, K. R.; Schwierz, R.; Sundermann, J. E.; Volk, A.; Bernard, D.; Bonneaud, G. R.; Latour, E.; Thiebaux, C. h.; Verderi, M.; Clark, P. J.; Gradl, W.; Muheim, F.; Playfer, S.; Robertson, A. I.; Xie, Y.; Andreotti, M.; Bettoni, D.; Bozzi, C.; Calabrese, R.; Cecchi, A.; Cibinetto, G.; Franchini, P.; Luppi, E.; Negrini, M.; Petrella, A.; Piemontese, L.; Prencipe, E.; Santoro, V.; Anulli, F.; Baldini Ferroli, R.; Calcaterra, A.; de Sangro, R.; Finocchiaro, G.; Pacetti, S.; Patteri, P.; Peruzzi, I. M.; Piccolo, M.; Rama, M.; Zallo, A.; Buzzo, A.; Contri, R.; Lo Vetere, M.; Macri, M. M.; Monge, M. R.; Passaggio, S.; Patrignani, C.; Robutti, E.; Santroni, A.; Tosi, S.; Chaisanguanthum, K. S.; Morii, M.; Wu, J.; Dubitzky, R. S.; Marks, J.; Schenk, S.; Uwer, U.; Bard, D. J.; Dauncey, P. D.; Flack, R. L.; Nash, J. A.; Nikolich, M. B.; Panduro, Vazquez W.; Behera, P. K.; Chai, X.; Charles, M. J.; Mallik, U.; Meyer, N. T.; Ziegler, V.; Cochran, J.; Crawley, H. B.; Dong, L.; Eyges, V.; Meyer, W. T.; Prell, S.; Rosenberg, E. I.; Rubin, A. E.; Gritsan, A. V.; Lae, C. K.; Denig, A. G.; Fritsch, M.; Schott, G.; Arnaud, N.; Be'Quilleux, J.; Davier, M.; Grosdidier, G.; Hoecker, A.; Lepeltier, V.; Le Diberder, F.; Lutz, A. M.; Pruvot, S.; Rodier, S.; Roudeau, P.; Schune, M. H.; Serrano, J.; Sordini, V.; Stocchi, A.; Wang, W. F.; Wormser, G.; Lange, D. J.; Wright, D. M.; Chavez, C. A.; Forster, I. J.; Gabathuler, J. R. Fry E.; Gamet, R.; Hutchcroft, D. E.; Payne, D. J.; Schofield, K. C.; Touramanis, C.; Bevan, A. J.; George, K. A.; Di Lodovico, F.; Menges, W.; Sacco, R.; Cowan, G.; Flaecher, H. U.; Hopkins, D. A.; Jackson, P. S.; Mcmahon, T. R.; Salvatore, F.; Wren, A. C.; Brown, D. N.; Davis, C. L.; Allison, J.; Barlow, N. R.; Barlow, R. J.; Chia, Y. M.; Edgar, C. L.; Lafferty, G. D.; West, T. J.; J. I., Yi; Anderson, J.; Chen, C.; Jawahery, A.; Roberts, D. A.; Simi, G.; Tuggle, J. M.; Blaylock, G.; Dallapiccola, C.; Hertzbach, S. S.; Li, X.; Moore, T. B.; Salvati, E.; Saremi, S.; Cowan, R.; Fisher, P. H.; Sciolla, G.; Sekula, S. J.; Spitznagel, M.; Taylor, F.; Yamamoto, R. K.; Kim, H.; Mclachlin, S. E.; Patel, P. M.; Robertson, S. H.; Lazzaro, A.; Lombardo, V.; Palombo, F.; Bauer, J. M.; Cremaldi, L.; Eschenburg, V.; Godang, R.; Kroeger, R.; Sanders, D. A.; Summers, D. J.; Zhao, H. W.; Brunet, S.; Cote, D.; Simard, M.; Taras, P.; Viaud, F. B.; Nicholson, H.; De Nardo, G.; Fabozzi, F.; Lista, L.; Monorchio, D.; Sciacca, C.; Baak, M. A.; Raven, G.; Snoek, H. L.; Jessop, C. P.; Losecco, J. M.; Benelli, G.; Corwin, L. A.; Gan, K. K.; Honscheid, K.; Hufnagel, D.; Kagan, H.; Kass, R.; Morris, J. P.; Rahimi, A. M.; Regensburger, J. J.; Ter Antonyan, R.; Wong, Q. K.; Blount, N. L.; Brau, J.; Frey, R.; Igonkina, O.; Kolb, J. A.; Lu, M.; Rahmat, R.; Sinev, N. B.; Strom, D.; Strube, J.; Torrence, E.; Gagliardi, N.; Gaz, A.; Margoni, M.; Morandin, M.; Posocco, M.; Rotondo, M.; Simonetto, F.; Stroili, R.; Voci, C.; Ben Haim, E.; Briand, H.; Chauveau, J.; David, P.; Del Buono, L.; de la Vaissiere, C. h.; Hamon, O.; Hartfiel, B. L.; Leruste, P. h.; Malcles, J.; Ocariz, J.; Perez, A.; Gladney, L.; Biasini, M.; Covarelli, R.; Manoni, E.; Angelini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Calderini, G.; Carpinelli, M.; Cenci, R.; Forti, F.; Giorgi, M. A.; Lusiani, A.; Marchiori, G.; Mazur, M. A.; Morganti, M.; Neri, N.; Paoloni, E.; Rizzo, G.; Walsh, J. J.; Haire, M.; Biesiada, J.; Elmer, P.; Lau, Y. P.; Lu, C.; Olsen, J.; Smith, A. J. S.; Telnov, A. V.; Baracchini, E.; Bellini, F.; Cavoto, G.; D'Orazio, A.; del Re, D.; Di Marco, E.; Faccini, R.; Ferrarotto, F.; Ferroni, F.; Gaspero, M.; Jackson, P. D.; Gioi L., Li; Mazzoni, M. A.; Morganti, S.; Piredda, G.; Polci, F.; Renga, F.; Voena, C.; Ebert, M.; Schroeder, H.; Waldi, R.; Adye, T.; Castelli, G.; Franek, B.; Olaiya, E. O.; Ricciardi, S.; Roethel, W.; Wilson, F. F.; Aleksan, R.; Emery, S.; Escalier, M.; Gaidot, A.; Ganzhur, S. F.; Hamel, de Monchenault G.; Kozanecki, W.; Legendre, M.; Vasseur, G.; Yeche, C. h.; Zito, M.; Chen, X. R.; Liu, H.; Park, W.; Purohit, M. V.; Wilson, J. R.; Allen, M. T.; Aston, D.; Bartoldus, R.; Bechtle, P.; Berger, N.; Claus, R.; Coleman, J. P.; Convery, M. R.; Dingfelder, J. C.; Dorfan, J.; Dubois Felsmann, G. P.; Dujmic, D.; Dunwoodie, W.; Field, R. C.; Glanzman, T.; Gowdy, S. J.; Graham, M. T.; Grenier, P.; Halyo, V.; Hast, C.; Hryn'Ova, T.; Innes, W. R.; Kelsey, M. H.; Kim, P.; Leith, D. W. G. S.; Li, S.; Luitz, S.; Luth, V.; Lynch, H. L.; Macfarlane, D. B.; Marsiske, H.; Messner, R.; Muller, D. R.; O'Grady, C. P.; Ozcan, V. E.; Perazzo, A.; Perl, M.; Pulliam, T.; Ratcliff, B. N.; Roodman, A.; Salnikov, A. A.; Schindler, R. H.; Schwiening, J.; Snyder, A.; Stelzer, J.; Su, D.; Sullivan, M. K.; Suzuki, K.; Swain, S. K.; Thompson, J. M.; Va'Vra, J.; van Bakel, N.; Wagner, A. P.; Weaver, M.; Wisniewski, W. J.; Wittgen, M.; Wright, D. H.; Yarritu, A. K.; Yi, K.; Young, C. C.; Burchat, P. R.; Edwards, A. J.; Majewski, S. A.; Petersen, B. A.; Wilden, L.; Ahmed, S.; Alam, M. S.; Bula, R.; Ernst, J. A.; Jain, V.; Pan, B.; Saeed, M. A.; Wappler, F. R.; Zain, S. B.; Bugg, W.; Krishnamurthy, M.; Spanier, S. M.; Eckmann, R.; Ritchie, J. L.; Ruland, A. M.; Schilling, C. J.; Schwitters, R. F.; Izen, J. M.; Lou, X. C.; Ye, S.; Bianchi, F.; Gallo, F.; Gamba, D.; Pelliccioni, M.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cartaro, C.; Cossutti, F.; Della Ricca, G.; Lanceri, L.; Vitale, L.; Azzolini, V.; Lopez March, N.; Martinez Vidal, F.; Milanes, D. A.; Oyanguren, A.; Albert, J.; Banerjee, S. w.; Bhuyan, B.; Hamano, K.; Kowalewski, R.; Nugent, I. M.; Roney, J. M.; Sobie, R. J.; Back, J. J.; Harrison, P. F.; Latham, T. E.; Mohanty, G. B.; Pappagallo, MARCO IGNAZIO; Band, H. R.; Chen, X.; Dasu, S.; Flood, K. T.; Hollar, J. J.; Kutter, P. E.; Pan, Y.; Pierini, M.; Prepost, R.; S. L., Wu; Yu, Z.; Neal, H.; Pompili, Alexis

doi:10.1103/PhysRevD.76.091101

We present measurements of the time-dependent CP-violating asymmetries in B(0)-> K(S)(0)K(S)(0)K(S)(0) decays based on 384x10(6) Upsilon(4S)-> B (B) over bar decays collected with the BABAR detector at the PEP-II asymmetric-energy B Factory at SLAC. We obtain the CP asymmetry parameters C=0.02 +/- 0.21 +/- 0.05 and S=-0.71 +/- 0.24 +/- 0.04, where the first uncertainties are statistical and the second systematic. These results are consistent with standard model expectations.

Measurement of CP asymmetries in B(0)-> K(S)(0)K(S)(0)K(S)(0) decays

Aubert B.;Bona M.;Boutigny D.;Karyotakis Y.;Lees J. P.;Poireau V.;Prudent X.;Tisserand V.;Zghiche A.;Tico J. Garra;Grauges E.;Lopez L.;PALANO, Antimo;Eigen G.;Ofte I.;Stugu B.;Sun L.;Abrams G. S.;Battaglia M.;Brown D. N.;Button Shafer J.;Cahn R. N.;Groysman Y.;Jacobsen R. G.;Kadyk J. A.;Kerth L. T.;Kolomensky Y.u. G.;Kukartsev G.;Pegna D. Lopes;Lynch G.;Mir L. M.;Orimoto T. J.;Pripstein M.;Roe N. A.;Ronan M. T.;Tackmann K.;Wenzel W. A.;Sanchez P. del Amo;Hawkes C. M.;Watson A. T.;Held T.;Koch H.;Lewandowski B.;Pelizaeus M.;Schroeder T.;Steinke M.;Boyd J. T.;Burke J. P.;Cottingham W. N.;Walker D.;Asgeirsson D. J.;Cuhadar Donszelmann T.;Fulsom B. G.;Hearty C.;Knecht N. S.;Mattison T. S.;McKenna J. A.;Khan A.;Saleem M.;Teodorescu L.;Blinov V. E.;Bukin A. D.;Druzhinin V. P.;Golubev V. B.;Onuchin A. P.;Serednyakov S. I.;Skovpen Y.u. I.;Solodov E. P.;Todyshev K. Yu;Bondioli M.;Bruinsma M.;Curry S.;Eschrich I.;Kirkby D.;Lankford A. J.;Lund P.;Mandelkern M.;Martin E. C.;Stoker D. P.;Abachi S.;Buchanan C.;Foulkes S. D.;Gary J. W.;Liu F.;Long O.;Shen B. C.;Zhang L.;Paar H. P.;Rahatlou S.;Sharma V.;Berryhill J. W.;Campagnari C.;Cunha A.;Dahmes B.;Hong T. M.;Kovalskyi D.;Richman J. D.;Beck T. W.;Eisner A. M.;Flacco C. J.;Heusch C. A.;Kroseberg J.;Lockman W. S.;Schalk T.;Schumm B. A.;Seiden A.;Williams D. C.;Wilson M. G.;Winstrom L. O.;Chen E.;Cheng C. H.;Dvoretskii A.;Fang F.;Hitlin D. G.;Narsky I.;Piatenko T.;Porter F. C.;Mancinelli G.;Meadows B. T.;Mishra K.;Sokoloff M. D.;Blanc F.;Bloom P. C.;Chen S.;Ford W. T.;Hirschauer J. F.;Kreisel A.;Nagel M.;Nauenberg U.;Olivas A.;Smith J. G.;Ulmer K. A.;Wagner S. R.;Zhang J.;Chen A.;Eckhart E. A.;Soffer A.;Toki W. H.;Wilson R. J.;Winklmeier F.;Zeng Q.;Altenburg D. D.;Feltresi E.;Hauke A.;Jasper H.;Merkel J.;Petzold A.;Spaan B.;Wacker K.;Brandt T.;Klose V.;Lacker H. M.;Mader W. F.;Nogowski R.;Schubert J.;Schubert K. R.;Schwierz R.;Sundermann J. E.;Volk A.;Bernard D.;Bonneaud G. R.;Latour E.;Thiebaux C.h.;Verderi M.;Clark P. J.;Gradl W.;Muheim F.;Playfer S.;Robertson A. I.;Xie Y.;Andreotti M.;Bettoni D.;Bozzi C.;Calabrese R.;Cecchi A.;Cibinetto G.;Franchini P.;Luppi E.;Negrini M.;Petrella A.;Piemontese L.;Prencipe E.;Santoro V.;Anulli F.;Baldini Ferroli R.;Calcaterra A.;de Sangro R.;Finocchiaro G.;Pacetti S.;Patteri P.;Peruzzi I. M.;Piccolo M.;Rama M.;Zallo A.;Buzzo A.;Contri R.;Lo Vetere M.;Macri M. M.;Monge M. R.;Passaggio S.;Patrignani C.;Robutti E.;Santroni A.;Tosi S.;Chaisanguanthum K. S.;Morii M.;Wu J.;Dubitzky R. S.;Marks J.;Schenk S.;Uwer U.;Bard D. J.;Dauncey P. D.;Flack R. L.;Nash J. A.;Nikolich M. B.;Vazquez W. Panduro;Behera P. K.;Chai X.;Charles M. J.;Mallik U.;Meyer N. T.;Ziegler V.;Cochran J.;Crawley H. B.;Dong L.;Eyges V.;Meyer W. T.;Prell S.;Rosenberg E. I.;Rubin A. E.;Gritsan A. V.;Lae C. K.;Denig A. G.;Fritsch M.;Schott G.;Arnaud N.;Be'quilleux J.;Davier M.;Grosdidier G.;Hoecker A.;Lepeltier V.;Le Diberder F.;Lutz A. M.;Pruvot S.;Rodier S.;Roudeau P.;Schune M. H.;Serrano J.;Sordini V.;Stocchi A.;Wang W. F.;Wormser G.;Lange D. J.;Wright D. M.;Chavez C. A.;Forster I. J.;Gabathuler J. R. Fry E.;Gamet R.;Hutchcroft D. E.;Payne D. J.;Schofield K. C.;Touramanis C.;Bevan A. J.;George K. A.;Di Lodovico F.;Menges W.;Sacco R.;Cowan G.;Flaecher H. U.;Hopkins D. A.;Jackson P. S.;McMahon T. R.;Salvatore F.;Wren A. C.;Brown D. N.;Davis C. L.;Allison J.;Barlow N. R.;Barlow R. J.;Chia Y. M.;Edgar C. L.;Lafferty G. D.;West T. J.;Yi J. I.;Anderson J.;Chen C.;Jawahery A.;Roberts D. A.;Simi G.;Tuggle J. M.;Blaylock G.;Dallapiccola C.;Hertzbach S. S.;Li X.;Moore T. B.;Salvati E.;Saremi S.;Cowan R.;Fisher P. H.;Sciolla G.;Sekula S. J.;Spitznagel M.;Taylor F.;Yamamoto R. K.;Kim H.;Mclachlin S. E.;Patel P. M.;Robertson S. H.;Lazzaro A.;Lombardo V.;Palombo F.;Bauer J. M.;Cremaldi L.;Eschenburg V.;Godang R.;Kroeger R.;Sanders D. A.;Summers D. J.;Zhao H. W.;Brunet S.;Cote D.;Simard M.;Taras P.;Viaud F. B.;Nicholson H.;De Nardo G.;Fabozzi F.;Lista L.;Monorchio D.;Sciacca C.;Baak M. A.;Raven G.;Snoek H. L.;Jessop C. P.;LoSecco J. M.;Benelli G.;Corwin L. A.;Gan K. K.;Honscheid K.;Hufnagel D.;Kagan H.;Kass R.;Morris J. P.;Rahimi A. M.;Regensburger J. J.;Ter Antonyan R.;Wong Q. K.;Blount N. L.;Brau J.;Frey R.;Igonkina O.;Kolb J. A.;Lu M.;Rahmat R.;Sinev N. B.;Strom D.;Strube J.;Torrence E.;Gagliardi N.;Gaz A.;Margoni M.;Morandin M.;Posocco M.;Rotondo M.;Simonetto F.;Stroili R.;Voci C.;Ben Haim E.;Briand H.;Chauveau J.;David P.;Del Buono L.;de la Vaissiere C.h.;Hamon O.;Hartfiel B. L.;Leruste P.h.;Malcles J.;Ocariz J.;Perez A.;Gladney L.;Biasini M.;Covarelli R.;Manoni E.;Angelini C.;Batignani G.;Bettarini S.;Calderini G.;Carpinelli M.;Cenci R.;Forti F.;Giorgi M. A.;Lusiani A.;Marchiori G.;Mazur M. A.;Morganti M.;Neri N.;Paoloni E.;Rizzo G.;Walsh J. J.;Haire M.;Biesiada J.;Elmer P.;Lau Y. P.;Lu C.;Olsen J.;Smith A. J. S.;Telnov A. V.;Baracchini E.;Bellini F.;Cavoto G.;D'Orazio A.;del Re D.;Di Marco E.;Faccini R.;Ferrarotto F.;Ferroni F.;Gaspero M.;Jackson P. D.;Gioi L. Li;Mazzoni M. A.;Morganti S.;Piredda G.;Polci F.;Renga F.;Voena C.;Ebert M.;Schroeder H.;Waldi R.;Adye T.;Castelli G.;Franek B.;Olaiya E. O.;Ricciardi S.;Roethel W.;Wilson F. F.;Aleksan R.;Emery S.;Escalier M.;Gaidot A.;Ganzhur S. F.;de Monchenault G. Hamel;Kozanecki W.;Legendre M.;Vasseur G.;Yeche C.h.;Zito M.;Chen X. R.;Liu H.;Park W.;Purohit M. V.;Wilson J. R.;Allen M. T.;Aston D.;Bartoldus R.;Bechtle P.;Berger N.;Claus R.;Coleman J. P.;Convery M. R.;Dingfelder J. C.;Dorfan J.;Dubois Felsmann G. P.;Dujmic D.;Dunwoodie W.;Field R. C.;Glanzman T.;Gowdy S. J.;Graham M. T.;Grenier P.;Halyo V.;Hast C.;Hryn'ova T.;Innes W. R.;Kelsey M. H.;Kim P.;Leith D. W. G. S.;Li S.;Luitz S.;Luth V.;Lynch H. L.;MacFarlane D. B.;Marsiske H.;Messner R.;Muller D. R.;O'Grady C. P.;Ozcan V. E.;Perazzo A.;Perl M.;Pulliam T.;Ratcliff B. N.;Roodman A.;Salnikov A. A.;Schindler R. H.;Schwiening J.;Snyder A.;Stelzer J.;Su D.;Sullivan M. K.;Suzuki K.;Swain S. K.;Thompson J. M.;Va'vra J.;van Bakel N.;Wagner A. P.;Weaver M.;Wisniewski W. J.;Wittgen M.;Wright D. H.;Yarritu A. K.;Yi K.;Young C. C.;Burchat P. R.;Edwards A. J.;Majewski S. A.;Petersen B. A.;Wilden L.;Ahmed S.;Alam M. S.;Bula R.;Ernst J. A.;Jain V.;Pan B.;Saeed M. A.;Wappler F. R.;Zain S. B.;Bugg W.;Krishnamurthy M.;Spanier S. M.;Eckmann R.;Ritchie J. L.;Ruland A. M.;Schilling C. J.;Schwitters R. F.;Izen J. M.;Lou X. C.;Ye S.;Bianchi F.;Gallo F.;Gamba D.;Pelliccioni M.;Bomben M.;Bosisio L.;Cartaro C.;Cossutti F.;Della Ricca G.;Lanceri L.;Vitale L.;Azzolini V.;Lopez March N.;Martinez Vidal F.;Milanes D. A.;Oyanguren A.;Albert J.;Banerjee S.w.;Bhuyan B.;Hamano K.;Kowalewski R.;Nugent I. M.;Roney J. M.;Sobie R. J.;Back J. J.;Harrison P. F.;Latham T. E.;Mohanty G. B.;PAPPAGALLO, MARCO IGNAZIO;Band H. R.;Chen X.;Dasu S.;Flood K. T.;Hollar J. J.;Kutter P. E.;Pan Y.;Pierini M.;Prepost R.;Wu S. L.;Yu Z.;Neal H.;POMPILI, ALEXIS

2007-01-01

Abstract

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

Anno

2007

Appare nelle tipologie:

1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11586/87650

Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Measurement of CP asymmetries in B(0)-> K(S)(0)K(S)(0)K(S)(0) decays

2007-01-01

Abstract

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

Attenzione

Citazioni

social impact

Measurement of CP asymmetries in B(0)-> K(S)(0)K(S)(0)K(S)(0) decays

2007-01-01

Abstract

Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC)

Informazioni

Attenzione

Citazioni

social impact

Conferma cancellazione

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)